恒港仪器：专注物体色度检测仪器！

EDX-A7 镀层测厚仪

工作原理：能量色散X射线荧光光谱法，具有速度快、无损样品等优点。

仪器简介：

X射线荧光光谱镀层测厚仪，专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型，可盲测（即：无需标准样品标定），即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析，降低客户购买标准样品（尤其是特殊样品）成本。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。

产品优势：

01 无标样测厚：可不用标准样品标定，即对样品镀层膜厚进行精准测试

02 微调平台：仪器外部对样品微调设计，降低及防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化导致的测试不准确性

03 开放式工作曲线：开放式工作曲线标定平台,可为每家用户量身定做合适的镀层分析工作曲线

产品详情：

专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型，可盲测（即：无需标准样品标定），即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析，降低客户购买标准样品（尤其是特殊样品）成本。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。

1.基本参数法分析软件，可不用标准样品标定，即对样品镀层膜厚进行精准测试

2.软件可根据样品材质、形状和大小自动设定光管功率，既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能，大幅提高测量精度

3.供开放式工作曲线标定平台,可为每家用户量身定做合适的镀层分析工作曲线

4.仪器外部对样品微调设计，降低及防止样品放置好后关闭样品盖产生振动而使测试位置发生变化导致的测试不准确性

5.可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求

5.业内第一家对达克罗涂覆工艺厚度分析的软件方法，完全取代金相显微镜技术在该行业的应用

7.软件对多次测试结果进行统计分析功能

规格参数：

分析元素范围：S-U中的元素

最低检测厚度：0.001um

检测厚度上限：30 -45um（视材料而定）

检测镀层层数：1-6层（视材料而定）

测量时间：30-120s ( 系统自动调整 )

分辨率：140±5eV

仪器尺寸：小于690(W)x420(D)x400(H)mm

样品腔尺寸：小于310*350*100mm；

输入电源：AC220V～240V，50/60Hz

额定功率：350W

重量：约50Kg

工作环境温度：温度15~30℃

工作环境相对湿度：≤85%（不结露）